เครื่องวิเคราะห์พารามิเตอร์เซมิคอนดักเตอร์

• เครื่องมือวิเคราะห์พารามิเตอร์เซมิคอนดักเตอร์ที่ใช้ Agile...

  เครื่องมือวิเคราะห์เซมิคอนดักเตอร์พารามิเตอร์ Precisionight / Agilent 4156 C ให้การวิเคราะห์พารามิเตอร์ benchtop ในห้องปฏิบัติการที่มีความแม่นยำสูงสำหรับการวิเคราะห์ลักษณะของอุปกรณ์ขั้นสูง

• ใช้หน่วยขยายเครื่องกําเนิดไฟฟ้าพัลส์ Agilent 41501B

  Agilent / HP 41501B SMU และเครื่องกําเนิดไฟฟ้าชีพจรหน่วยขยายใช้เพื่อเพิ่มความสามารถในการวัดของ 4155A, 4155B, 4155C, 4156A, 4156B และ 4156C

• ใช้ HPSMU Agilent B 1510 A

  Source / Measure Units (SMU) เช่น Keysight B 1510 A (Agilent) เป็นโมดูลการวัดที่สำคัญของ Agilent / Keysight B 1500 เครื่องวิเคราะห์พารามิเตอร์อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์

• โมดูลหน่วยสร้างรูปคลื่นที่ใช้แล้ว Agilent B 1530 A

  The Keysight B 1530 โมดูลหน่วยสร้างรูปคลื่น / การวัดแบบรวดเร็ว (WGFMU) เหมาะสำหรับการวัด IV ที่รวดเร็วเป็นพิเศษ IVs ที่พัลซิ่งและ IV ชั่วคราว

• ใช้หน่วยตรวจสอบแหล่งความละเอียดสูง Agilent B1517A

  ภาพรวมผลิตภัณฑ์
  หน่วยจอภาพที่มาความละเอียดสูง

• หน่วยการตรวจสอบแหล่งที่มาปัจจุบันปานกลางใช้ Agilent B 1514 A

  MCSMU

• หน่วยการตรวจสอบแหล่งพลังงานกลางที่ใช้ Agilent B 1511 A

  หน่วยตรวจสอบแหล่งพลังงานกลาง

• เครื่องกำเนิดหน่วยพัลส์ที่ใช้ Agilent B 1525 A

  Agilent B 1525 A, หน่วยกำเนิดพัลส์

• ใช้การวัดด้วยความเร็วสูงแบบ Agilent E5260A

  ระบบวัดความเร็วของ Keysight E5260A 8-Slot ช่วยลดต้นทุนการทดสอบของคุณโดยให้การทดสอบแบบพาราเมตริกความเร็วสูงสําหรับการทดสอบชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ RFIC และส่วนประกอบแบบออพติคอล

• หน่วยตรวจสอบที่มาความเร็วสูงที่ใช้ Agilent E 5262 A

  Keysight E 5262 หน่วยการตรวจสอบแหล่งที่มามอบโซลูชันการทดสอบพารามิเตอร์ความเร็วสูงสำหรับการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์, RFIC และออปติคัล

• ใช้ระบบการวัดแบบพาราเมตริก Agilent E5270B

  เมนบอร์ดวัดค่าพารามิเตอร์ 8 ช่อง Agilent E5270B คือผู้ใช้สามารถกําหนดค่าได้อย่างสมบูรณ์ คุณสามารถติดตั้งโมดูลสล็อตเดียวได้ถึงแปดโมดูล (เช่น E5281B MPSMU)

• ใช้ HPSMU Agilent E 5280 B

  Keysight E 5280 B เป็นหน่วยแหล่งพลังงาน / การตรวจวัดค่าสูง (HPSMU) ซึ่งทำงานกับ E 5270 B เมนเฟรมระบบวัดเฟรม 8-Slot